| Typ produktu |
Česká technická norma (ČSN) |
| Oznaèení zákl. dokumentu |
ČSN EN IEC 63202-1 |
| Zmìna/oprava/svazek |
|
| Tøídicí znak |
364662 |
| Katalogové èíslo |
509003 |
| Název dokumentu |
Fotovoltaické články - Část 1: Měření degradace způsobené světlem fotovoltaických článků z krystalického křemíku |
| Anglický název |
Photovoltaic cells - Part 1: Measurement of light-induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells |
| Datum vydání |
01.03.2020 |
| Datum ukonèení platnosti |
|
| Datum úèinnosti |
01.04.2020 |
| Vìstník vydání (mìs/rok) |
3/20 |
| Vìstník zrušení |
|
| Zpùsob vydání |
ve věstníku |
| Zpùsob pøevzetí originálu |
vyhlášením |
| Bude pøeložena |
Ne |
| Použité jazyky |
|
| ICS kódy |
27.160 - Technika sluneční energie
|
| Subsektor |
|
| Deskriptory |
|
| Klíèová slova |
|
| Harmonizace/Urèení |
Informace o harmonizovaných a urèených normách jsou zveøejnìny v Databázi harmonizovaných norem
|
| Zapracované dokumenty |
| Oznaèení | Rok vydání |
| EN IEC 63202-1 | 2019 |
| IEC 63202-1 | 2019 |
|
| Zmìny |
|
| Opravy |
|
| Nahrazuje dokumenty |
|
| Byla nahrazena dokumenty |
|
| Anotace |
ČSN EN IEC 63202-1 (36 4662) This part of IEC 63202 describes procedures for measuring the light-induced degradation (LID) of crystalline silicon photovoltaic (PV) cells in simulated sunlight. The magnitude of LID in a crystalline silicon PV cell is determined by comparing maximum output power at Standard Test Conditions (STC) before, and after, exposure to simulated sunlight at a specified temperature and irradiance. The purpose of this document is to provide standardized PV cell LID information to help PV module manufacturers in minimizing the mismatch between cells within the same module, thereby maximizing power yield. |