Detailní informace o produktu

Typ produktu Česká technická norma (ČSN)
Označení zákl. dokumentu ČSN EN 62979
Změna/oprava/svazek
Třídicí znak 364655
Katalogové číslo 504095
Název dokumentu Fotovoltaický modul - Překlenovací dioda - Zkouška tepelného lavinového jevu
Anglický název Photovoltaic module - Bypass diode - Thermal runaway test
Datum vydání 1.5.2018
Datum ukončení platnosti
Datum účinnosti 1.6.2018
Věstník vydání (měs/rok) 5/18
Věstník zrušení
Způsob vydání ve věstníku
Způsob převzetí originálu vyhlášením
Bude přeložena Ne
Použité jazyky
ICS kódy 27.160 - Technika sluneční energie
Subsektor
Deskriptory
Klíčová slova
Harmonizace/Určení Informace o harmonizovaných a určených normách jsou zveřejněny v Databázi harmonizovaných norem
Zapracované dokumenty
OznačeníRok vydání
EN 629792017
IEC 629792017
Změny
Opravy
Nahrazuje dokumenty
Byla nahrazena dokumenty
Anotace

ČSN EN 62979 (36 4655) This document provides a method for evaluating whether a bypass diode as mounted in the module is susceptible to thermal runaway or if there is sufficient cooling for it to survive the transition from forward bias operation to reverse bias operation without overheating. This test methodology is particularly suited for testing of Schottky barrier diodes, which have the characteristic of increasing leakage current as a function of reverse bias voltage at high temperature, making them more susceptible to thermal runaway. The test specimens which employ P/N diodes as bypass diodes are exempted from the thermal runaway test required herein, because the capability of P/N diodes to withstand the reverse bias is sufficiently high.