Detailní informace o produktu

Typ produktu Česká technická norma (ČSN)
Oznaèení zákl. dokumentu ČSN EN IEC 60749-41
Zmìna/oprava/svazek
Tøídicí znak 358799
Katalogové èíslo 512197
Název dokumentu Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 41: Standardní metody zkoušení spolehlivosti paměťových součástek nezávislých na napájení
Anglický název Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Datum vydání 01.04.2021
Datum ukonèení platnosti
Datum úèinnosti 01.05.2021
Vìstník vydání (mìs/rok) 4/21
Vìstník zrušení
Zpùsob vydání samostatně tiskem
Zpùsob pøevzetí originálu převzetí originálu
Bude pøeložena Ne
Použité jazyky
ICS kódy 31.080.01 - Polovodičové součástky obecně
Subsektor
Deskriptory
Klíèová slova
Harmonizace/Urèení Informace o harmonizovaných a urèených normách jsou zveøejnìny v Databázi harmonizovaných norem
Zapracované dokumenty
OznaèeníRok vydání
EN IEC 60749-412020
IEC 60749-412020
Zmìny
Opravy
Nahrazuje dokumenty
Byla nahrazena dokumenty
Anotace

ČSN EN IEC 60749-41 Tato norma stanovuje procedurální požadavky na provádění platných zkoušek výdrže, uchování a zkoušek na opačné teplotě založené na kvalifikační specifikaci. Kvalifikační specifikace výdrže a uchování (pro počet cyklů, trvání, teploty a velikosti vzorku) jsou specifikovány v JESD47, nebo jsou vyvíjeny pomocí metod vycházejících ze znalostí JESD94.